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标准号:GB/T 1554-1979
作废 硅单晶(111)晶面位错蚀抗腐蚀显示测量方法
Measurement of dislocation etch pits on(111) crystal face in monocrystalline silicon by etch display methods
标准组织:中国国家标准,中国国家标准 |
语种:中文 |
CCS分类:金属物理性能试验方法 |
ICS分类: |
发布日期:2022-02-11 |
实施日期:
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作废日期 :1995-12-01 |
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