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标准号:IEC 60749-7-2011

现行有效 半导体器件.机械和气候试验方法.第7部分:其他残余气体的分析和内部水分含量的测量

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases

标准组织:

国际标准,国际电工委员会标准

语种:

英法双语

CCS分类:

半导体分立器件综合

ICS分类:

半导体器件综合


发布日期:

2011-06-17

实施日期:

2011-06-17

作废日期 :

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