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标准号:IEC 60747-5-3-2009
现行有效 半导体分立器件和集成电路.第5-3部分:光电子器件.测试方法
Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Part 5-3: Optoelectronic devices - Measuring methods
标准组织:国际标准,国际电工委员会标准 |
语种:英法双语 |
CCS分类:光电子器件综合 |
ICS分类: |
发布日期:2009-11-25 |
实施日期:2009-11-25 |
作废日期 :
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被替代标准 : |
替代关系 :全部代替 |
作废日期:2009-11-25 |
替代标准 : |
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