中山市标准信息服务平台
首页
标准号:IEEE 1505.1-2008
作废
Trial-Use Standard for the Common Test Interface Pin Map Configuration for High-Density, Single-Tier Electronics Test Requirements Utilizing IEEE Std 1505
标准组织:外国专业团体标准,美国电气与电子工程师协会 |
语种:英文 |
CCS分类: |
ICS分类: |
发布日期:2008-09-26 |
实施日期:2008-09-26 |
作废日期 :2019-06-13 |
被替代标准 : |
替代关系 : |
作废日期: |
替代标准 : |
替代关系 :全部代替 |
作废日期: |
被采用标准 : |
采用关系 : |
|
采用标准 : |
采用关系 : |
|
引用标准 : |
引用关系 : |
|
修改记录 : |
|
标准摘要 : |
发布单位 : |
归口单位 : |
起草单位 : |
起草人 : |
出处 : |
备注 : |
