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标准号:IEC 60749-38-2008
现行有效
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory
标准组织:国际标准,国际电工委员会标准 |
语种:英法双语 |
CCS分类: |
ICS分类:半导体器件综合 |
发布日期:2008-02-12 |
实施日期:2008-02-12 |
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