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标准号:IEC 62373-2006
现行有效
Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)
标准组织:国际标准,国际电工委员会标准 |
语种:英法双语 |
CCS分类: |
ICS分类:半导体器件 |
发布日期:2006-07-18 |
实施日期:2006-07-18 |
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