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标准号:EN 60749-1-2003
现行有效 半导体器件,机械和气候试验方法.总则.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 1: General
标准组织:欧洲标准,欧洲电工标准化委员会 |
语种:英文 |
CCS分类:半导体分立器件综合 |
ICS分类:半导体器件综合 |
发布日期:2003-06-20 |
实施日期:2004-01-01 |
作废日期 :
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被替代标准 : |
替代关系 :全部代替 |
作废日期:2003-04-01 |
替代标准 : |
替代关系 : |
作废日期: |
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