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标准号:DIN EN 60747-5-3-2003
现行有效 半导体分立器件和集成电路.第5-3部分:光电器件.测量方法
Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Part 5-3: Optoelectronic devices; Measuring methods (IEC 60747-5-3:1997 + A1:2002); German version EN 60747-5-3:2001 + A1:2002
标准组织:外国国家标准,德国标准 |
语种: |
CCS分类:半导体集成电路 |
ICS分类:光电子学、激光设备 |
发布日期:2003-01-01 |
实施日期:
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作废日期 :
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被替代标准 : |
替代关系 :全部代替 |
作废日期: |
替代标准 : |
替代关系 : |
作废日期: |
被采用标准 : |
采用关系 :等同 等同 |
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采用标准 : |
采用关系 :等同 |
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修改记录 : |
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