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标准号:BS EN 60749-3-2002
作废 半导体器件.机械和气候试验方法.外观检验
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - External visual examination
标准组织:外国国家标准,英国标准 |
语种: |
CCS分类:半导体分立器件综合 |
ICS分类:半导体器件综合 |
发布日期:2002-08-27 |
实施日期:2002-08-27 |
作废日期 :2017-11-30 |
被替代标准 : |
替代关系 :全部代替 |
作废日期: |
替代标准 : |
替代关系 :全部代替 |
作废日期: |
被采用标准 : |
采用关系 :等同 等同 |
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采用标准 : |
采用关系 :等同 |
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修改记录 : |
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