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标准号:IEC 61967-6-2002
作废 集成电路.150kHz-1GHz电磁辐射的测量.第6部分:传导放射测量.磁探测器法
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 6: Measurement of conducted emissions - Magnetic probe method
标准组织:国际标准,国际电工委员会标准 |
语种:英法双语 |
CCS分类:半导体集成电路 |
ICS分类:集成电路、微电子学 |
发布日期:2002-06-25 |
实施日期:2002-06-25 |
作废日期 :2008-06-24 |
被替代标准 : |
替代关系 : |
作废日期: |
替代标准 : |
替代关系 :全部代替 |
作废日期: |
被采用标准 : |
采用关系 :等同 等同 |
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采用标准 : |
采用关系 :等同 等同 参照 修改 |
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引用标准 : |
引用关系 : |
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修改记录 :IEC 61967-6-2002AMD.1:2008 IEC 61967-6-2002COR.1:2010 |
增补 勘误 |
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发布单位 : |
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起草单位 : |
起草人 : |
出处 : |
备注 : |
