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标准号:IEC 60749-11-2002
现行有效 半导体器件.机械和气候试验方法.第11部分: 温度的急速变化.双液电镀槽法
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature - Two-fluid-bath method
标准组织:国际标准,国际电工委员会标准 |
语种:英法双语 |
CCS分类:半导体分立器件综合 |
ICS分类:半导体器件综合 |
发布日期:2002-04-12 |
实施日期:2002-04-12 |
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修改记录 :IEC 60749-11-2002COR.1:2003 IEC 60749-11-2002COR.2:2003 |
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