中山市标准信息服务平台
首页
标准号:IEC 60749-6-2002
作废 半导体器件.机械和气候试验方法.第6部分:高温下储存
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature
标准组织:国际标准,国际电工委员会标准 |
语种:英法双语 |
CCS分类:半导体分立器件综合 |
ICS分类:半导体器件综合 |
发布日期:2002-04-12 |
实施日期:2002-04-12 |
作废日期 :
|
被替代标准 : |
替代关系 : |
作废日期: |
替代标准 : |
替代关系 : |
作废日期: |
被采用标准 : |
采用关系 :等同 等同 |
|
采用标准 : |
采用关系 :等同 等同 |
|
引用标准 : |
引用关系 : |
|
修改记录 : |
|
标准摘要 : |
发布单位 : |
归口单位 : |
起草单位 : |
起草人 : |
出处 : |
备注 : |
