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标准号:TECHAMERICA EIA-555-1989
现行有效
Lot Acceptance Procedure for Verifying Compliance with the Specified Quality Levels (SQL) in PPM Annex to SSB-1, Guidelines for Using Plastic Encapsulated Microcircuits and Semiconductors in Military, Aerospace and Other Rugged Applications [Replaced: TEC
标准组织:美国技术标准与技术部 |
语种:英文 |
CCS分类: |
ICS分类: |
发布日期:1989-01-01 |
实施日期:1989-01-01 |
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